[1]
L. R. Landaeta Chinchilla, M. A. Suarez Sierra, y O. D. Flórez Cediel, «Evaluación de la confiabilidad de microrredes eléctricas aisladas por el método de árbol de fallas», Rev. politec., vol. 11, n.º 20, pp. 89–98, jun. 2015.