TY - JOUR AU - Aguillón-Gómez, Juliette Vanessa AU - Quintero-Ramirez, Santiago AU - Madrigal-Benítez, Douglas Alejandro AU - Escobar, Jhon F PY - 2023/03/28 Y2 - 2024/03/28 TI - Análisis de las capacidades de innovación tecnológica en un sistema regional aeroespacial localizado mediante un modelo PLS -SEM JF - Revista Politécnica JA - Rev. politec. VL - 19 IS - 37 SE - Artículos DO - 10.33571/rpolitec.v19n37a5 UR - https://revistas.elpoli.edu.co/index.php/pol/article/view/2108 SP - 57-82 AB - <p class="Default" style="text-align: justify;"><span style="font-size: 10.0pt; font-family: 'Arial',sans-serif; color: windowtext;">Se realizó el análisis de las capacidades de innovación tecnológica (CIT) de un Sistema Regional de Innovación Aeroespacial (SRIA), a través de un modelo PLS-SEM. El modelo concibe que las CIT inciden en el aprendizaje tecnológico del sistema. La metodología utilizada<a name="_Hlk124328995"></a> configuró un instrumento que fue puesto a prueba con las empresas asociadas SRIA, seguido, se procedió a validar la consistencia y fiabilidad del sistema de medición y evaluación de las CIT, a través del coeficiente alfa de cronbach’s para, finalmente, refinar a partir de la aplicación PLS SEM, apartando las variables que no fueron representativas para el sistema. Se concluye que el conjunto de variables seleccionadas, consolida un constructo que facilita la medición y evaluación y otorga información de los niveles de desarrollo de las CIT en el periodo de observación y de la incidencia del aprendizaje tecnológico evidenciado en la acumulación de las CIT del SRIA. </span></p><p>The analysis of the technological innovation capabilities (TIC) of a Regional Aerospace Innovation System (RAIS) was carried out through a PLS-SEM model. The model conceives that TIC influence the technological learning of the system. The methodology used configured an instrument that was tested with RAIS partner companies, followed, the consistency and reliability of the TIC measurement and evaluation system was then validated, through the cronbach's alpha coefficient and, finally, refined through the PLS SEM application, removing the variables that were not representative for the system. It is concluded that the set of variables selected consolidates a construct that facilitates measurement and evaluation and provides information on the levels of TIC development in the observation period and the incidence of technological learning evidenced in the accumulation of TIC in the RAIS.</p> ER -